LSIテスト製品

AEHR TEST SYSTEMS

生産ソリューション

Aehr Test Systemsは、歩留まりと信頼性を向上させるために、製品の製造フロー全体にわたる完全な生産ソリューションを提供します。

ウェハレベル・テスト&バーンイン・ソリューション

シングルウエハー・テスト&バーンイン・ソリューション

FOX-CPは、大量生産向けの枚葉式バーンインおよびテスト・ソリューションです。

  • パッケージ・パーツからスタックド・ダイ・アプリケーション用ウェハへのテスト移行が進む中、ウェハあたりのテスト・コストを最小化します。
  • 業界初のユニバーサル・チャネル・アーキテクチャにより、どのチャネルもI/O、電源、クロック、PPMU機能をサポートし、フル・ウェーハ・テストに必要な数千のリソースを利用できます。
    DFT、BIST、および高並列度向けに最適化
  • 実績のあるアプリケーションは以下の通りです。車載用ICのフルウエハ機能テスト、ストレステスト、バーンインテスト、ディスクリートまたは組み込みメモリの低コストフルウエハテスト。

シングルウエハー・テストとバーンイン・ソリューションの詳細はこちら

マルチウェーハ・テスト&バーンイン・ソリューション

FOX-XPは、大量生産に適したマルチ・ウェーハ・システムのバーンインおよびテスト・ソリューションです。

  • 複雑なデバイスでもウェハ1枚あたりのテスト&バーンインコストを最小化 – 1つのチャンバーで最大18枚のウェハを並行してテスト可能
  • 数万本のピンを持つAehr Test WaferPakTMコンタクタを使用し、各ウェハに接触させ、シングル挿入のフルウェハ・テストとバーンインを行います。
  • 業界初のユニバーサルチャンネルアーキテクチャにより、どのチャンネルでもI/O、電源、クロック、PPMU機能をサポートします。
  • DFT、BIST、長時間のテストに最適化されています。
  • 実績のあるアプリケーションは以下の通りです。ロジック、メモリ、フォトニックデバイスのフルウエハ機能テスト、ストレス、サイクリング、バーンイン
  • WaferPakハンドラー/アライナーを統合したスタンドアローンおよび全自動テストセル

マルチウェハテストとバーンインソリューションについて詳しく説明します。

ダイ・レベル・テスト/バーンイン・ソリューション

FOX-XPは、FOX DiePakキャリアを使用した、シングル・ダイおよびモジュール・テスト用の非常に柔軟なテスト/バーンイン・ソリューションです。オプションの自動DiePak Loaderは、DiePak Carriersへのデバイスのロード/アンロードを行い、スループットを向上させることができます。

  • バーンイン/テストボードごとに100個以上のモジュール/ダイスを収容可能
  • 超小型ダイ/CSPモジュール・パッド・コンタクトの要件に対応
  • モジュール/ダイのソケッティングの課題を解決
  • 個々のダイ/モジュールの光エネルギー測定
  • デバイスと光エネルギーによって発生する熱の厳密な温度制御を維持します。

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パッケージ部品テスト&バーンイン・ソリューション

MAX5とABTSは、今日の先端半導体デバイスのための、業界で最も高性能なテスト/バーンインプラットフォームです。

  • モジュール式、アップグレード可能、拡張可能なテストエレクトロニクスにより、将来性を確保
  • 1900Vまでの高電圧オプション
  • DUTあたり最大100Wの大電流オプション
  • 生産バーンインスクリーニング、HTOL、HTRB、HTGB認定試験対応
  • 10V VIHと200MHz HFクロックまで対応する最先端のピンエレクトロニクスを搭載
  • SPI、I2C、PSI5通信によるプロトコルを考慮したテスト
  • DUTレベルの電圧、電流、または温度モニタリング
  • GUIベースのテストプログラミングとエンタープライズレベルのデータベース管理および自動化

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システム・レベル・テストとバーンイン・ソリューション

システム・レベル・テスト(SLT)は、従来の構造テストや機能テストからのパラダイムシフトです。デバイスを完全な統合システムでテストし、指定された要件に対するコンプライアンスを評価します。このシステム・アプローチは、特に多機能で非決定論的なデバイスに対して、より高度でコスト効率の良いテスト・カバレッジを可能にします。また、より大きなフォームファクタへの対応、デバイスとシステムレベルで相互作用するサブシステムの統合、RF、プロトコルテスト、光学センシングなどのスティミュラスおよびレスポンス機能の追加といった新しい課題も発生します。

システムレベルのテストに必要な多数のデバイスと分野によって、ソリューションはかなり複雑になり、さまざまなレベルのカスタマイズが必要になることがあります。Aehr Test Systemは、世界クラスの専門家チーム、バーンインとテストにおける40年以上の専門知識、適切なビジネスケースを与えられたユニークなソリューションを開発する敏捷性を提供します。私たちは、お客様のシステム・レベル・テストのニーズについて詳しくお聞きし、私たちの技術とプラットフォーム・ソリューションで、お客様のテストの課題に対処できることを楽しみにしています。

システムレベルテストとバーンインソリューションの詳細については、こちらをご覧ください

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