JF Microtechnologyでは,IC/LSIプロダクションにおけるOEE(設備総合効率)を重視した,各種リード/リードレスパッケージ対応のテストソケットをラインアップしています。

独自のコンタクトピンとハウジング構造を採用,大電流/ケルビンテストや高周波アナログテストなど,評価から量産まで幅広くカバーしています。

Zigma

    - 微小ワイプ
    - 広帯域 ~40GHz

Alpha

    - ケルビン測定
    - 大電流

Gamma

    - ケルビン測定
    - 精密温度コントロール

Eta.5

    - 小型パッケージ
    - 高周波測定