TestDeveloper(TD)

TestDeveloper(TD)は、Microsoft Windowsプラットフォームで動作するTSSI社の強力なベクター変換ツールです。

TDはTD-SCANとTD-SIMパッケージがあります。これらのTDパッケージは、ATEパートナーと共に開発され、アナログ、ミックスシグナル、RF、車載などのアプリケーションにおけるソリューションを提供します。

TD-SCANは、スキャンパターン(WGL,STIL)のみのサポートで、TD-SIMは、スキャンとサイクライズが要求されるファンクションパターン(VCD,EVCD)をサポートします。

簡単な操作ーGUIとバッチ

グラフィカル・ユーザインターフェースとバッチモードにより、迅速に処理を行えます。TD-SimとTD-Scanは簡単なブランクを埋める方式で、入力ファイルのインポートからターゲットテスタパタンを即座に生成できます。初心者ユーザでもマニュアルや指導者がいなくても実行できます。

上級者は、バッチモードにより、多くの変換処理を行うことができます。

中間データベースと波形表示で操作時間を短縮

TD-SimとTD-Scanは、EDAファイルを中間データベースに変換します。その後のデータ処理や調整は波形表示を使って直接実行できます。そして、TesterBridgeによって目的のATE(ChromaやNI)用のパターンを生成します。

信号テーブルとピンマッピング

TD-SimとTD-Scanの信号テーブルは、スプレッドシート・フォーマットでピンマッピングと信号の情報を編集できます。

TD-Scan for NI LabVIEW

TD-Scanとは、柔軟で使いやすい、パフォーマンスの良いテストプログラム開発ソフトウェアです。

TD-Scan for National Instrumentsは、WGLとIEEE1450 STILのシミュレーションベクタデータを読み込み、NI PXIディジタルテストシステムへ変換します。 LabVIEWデータを作成できるため、エンジニアはWGLとSTILベクタをLabVIEWグラフィカルシステムデザインソフトウェアと、NI Digital Waveform Editorに読み込んで取り扱うことができます。いずれも、NIディジタルテストハードウェアを制御することができます。

特徴

  • WGLとSTILパタンファイルを読み込み
  • NI 65XXハイスピードディジタルI/Oシリーズのプロラム生成
  • 強力な波形表示と対話型編集機能
  • GUIおよびバッチ動作
  • NI LabVIEW環境との協調

主な機能

  • サンプリングクロック周波数を調整して波形精度、チャンネルメモリを最適化
  • 最大クロック周波数とスロット間エッジ遅延自動チェック
  • デバイスチャンネルとシステムボードレイアウト自動設定
  • NI製品サポート
    • PXI/PCI-6541/6542  
    • PXI/PCI-6544/6545  
    • PXI/PCI-6547/6548  
    • PXI/PCI-6551/6552  
    • PXI/PCI-6561/6562

中間データベースへ保存

TD-Scan for National Instrumentsは、WGLとSTILファイルを読み込み中間データベースに保存します。データ分析と調整は波形エディタを使って中間データベースに直接行われます。その後、データベースからLabVIEWデータを生成しますので、大きなパタンでは変換時間を短縮できます。

モジュール構成による拡張性

TD-Scan for National Instrumentsは、モジュールを追加することで、複数のATEプラットフォームに対応したパタンファイルを作成することができます。 また、VCDとeVCDを取り扱えるTD-Sim、TestDeveloperにアップグレードすることができます

関連リンク

TSSI TD-Scan for National Instruments
TD-Scanを使ってWGL/STILテスト波形をNIの高速デジタル計測器で生成 
Semiconductor Test  National Instruments
NIのデジタルATEモジュールPXIe-6556で半導体用ATEシステムを開発

NI, LabVIEW, PXI/PCI-65XXはNational Instruments社の登録商標です

WGL-to-STILWriter for Advantest Cloud Testing Service

WGL-to-STILWriterは、Windowsで動作するスタンドアロンTD-ScanモジュールでAdvantest Cloud Testing Service (CTS)と共に動作します。WGL(TSSI Waveform Generation Language) からSTIL (IEEE Standard Test Interface Language 1450-1999)に変換します。