Test Inspireはポータビリティと使い易さをベースに、モジュラー化した自動処理テストセルにフォーカスしたテスト効率化ソリューションプロバイダです。ソリューションはテストベンチ、ATE、バーイン装置、システムレベルテスト等にシームレスにインテグレートされ、テスト機能と生産性を強化し最適な機器効率を実現します。

ATEのDUTに対するEOS:過電圧・過電流ストレスを検出する

多チャンネル・自動レポートスパイク・ディテクター

なぜ、EOS(Electrical Over Stress)「過電圧・過電流ストレス」が重要なのか?

※ Copyright 2010, Dangelmayer Assoc. & Semitracks Inc.

顧客から故障したデバイスが戻ってきてその原因を調べた結果です。
最大は、NTF(No Trouble Found)原因不明
最小は、ESD(Electro Static Discharge)「静電気放電」(コントロール可能)
次に大きいのがEOS(テスト中と実装システムで実稼働中の両方)です。
いかに、EOSが重要であるかを示しています。

MENU
PAGE TOP