STILとは IEEE1450.0基礎講座

◇ STILとは、Standard Test Interface Language の略

• IEEE ( Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. http://www.ieee.org/ ) で標準化されたテストインターフェース言語

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この章では、STILを記述するうえで必要となる基本知識を解説します。

1.1 STILとは
1.2 基本的な記述規則
1.3 STILの一般構成
1.4 STIL文の構造
1.5 STILの原則と制約
◆ 予約語と予約文字について
◆ ユーザ定義名に対するBNF
◆ 数値に対するBNF

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この章では、STILで記述されたテストパターンであることを示すための宣言文と、コメント及び注釈文の記述について解説します。

2.1 STILの宣言
2.2 コメントの記述
2.3 注釈文の記述
◆ IEEE1450.0とP1450.1との相違点

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この章では、STILファイルであることの宣言を行なった後に、テストパターン記述において、まず必要になるピン名の定義方法について解説します。

3.1 ピン名を定義する
3.2 ピングループ名を定義する
◆ ピン名に関する制限

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この章では、テストパターンを記述する際に用いるWFC(WaveFormCharacter)の定義方法について解説します。

4.1 Timingブロックを定義する
4.2 複数のタイミング情報を定義する
4.3 波形文字(WFC)を定義する
◆ サポートする波形タイプ

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この章では、テストパターンの定義方法およびテストパターンブロックの実行に関する制御の定義、またテストパターンの定義に関して用意されている詳細なステートメントについて解説します。

5.1 テストの実行制御ブロックを定義する
5.2 実行パターンリストを定義する
5.3 テストパターンブロックを定義する
5.4 パターンのサブルーチンを定義する
5.5 スキャンのシフト動作を定義する
◆ DC測定情報の定義方法

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この章では、スキャンテストで使われるスキャンチェーンを構成するスキャン用ピン、スキャンフリップフロップ回路(スキャンF/F)などの情報を定義するために用意されている詳細なステートメントについて解説します。

6.1 ScanStructuresブロックを定義する
6.2 スキャンチェーン情報の定義例（１）
6.3 スキャンチェーン情報の定義例（２）

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この章では、テストデータの例題を用いて、STILの具体的な記述例を示します。なお、ここに記述したSTILの記述は一例であり、実際には様々な記述方法があることをご理解ください。

7.1 一般的なSTIL記述
7.2 スキャン回路に対するSTIL記述

◆用語集
STILに関連する用語をまとめています。またテスト全般に関する用語もあわせてまとめています。
◆ステートメント集
STIL（IEEE 1450.0-1999）で利用できるステートメントの解説を逆引きできます。
◆キーワード集
STILステートメントの記述の際に利用するイベント種類やその他の関連用語をまとめています。