この分野の企業は、他の産業と比較して膨大な量のデータを生成しています。yieldHUBはサーバーに容量を追加し、数千枚のウェハーのパラメータを同時に分析します。
コンシューマーエレクトロニクスの課題
膨大な量のデータ
モニタリングや分析が必要なSTDFデータは、1TBを超えるのが一般的です。yieldHUBのデータベース設計は、スケーラビリティが重要です。
時間的に異常が見えにくい
このような大量生産では、パラメトリック、ビン、歩留まりアラートを利用できるyieldHUBのようなシステムが大きな助けとなります。
テスト時間
yieldHUBは、テスト時間をテストのように扱います。つまり、総合的に分析することで、時間をかけて削減し、コストを削減することが可能になります。
隠れたフェイルパターン
数百枚のウェハーを素早くスタックし、各X/Yでの歩留まりを確認することで、ファウンドリの歩留まり向上に役立つパターンを明らかにすることができます。
歩留まりの一貫性
大量生産に入る前に、yieldHUBの強力なゲージR&Rツールは、すべてのセットアップにおいて一貫して高い歩留まりを確保するのに役立ちます。
サイトの問題
大量生産されるチップでは、マルチサイトテストが一般的です。yieldHUBは、サイト間の歩留まりを最適化するために必要なサイトベースの分析をすべて備えています。
膨大な量のデータを扱う
従来のデスクトップ型ツールの利点は、高速であることだった。つまり、いったんデータをデスクトップにダウンロードすれば、そのデータはすぐに利用できるのです。数百のテストを分析し、同僚や顧客に送るのに便利な標準的なレポートを提供することができました。しかし、主な問題はスケーラビリティでした。
ゲージR&Rによる歩留まりの向上
ゲージR&Rは、半導体産業において長年にわたり、試験中のばらつきを測定し、繰返し性と再現性を評価するために使用されてきました。これらの測定値は、製造におけるテストの適合性を評価するために使用されます。
自動化されたアラートはどのように役立つのか
定期的に配信される自動化されたレポートは、歩留まりの低下やパラメトリックシフトなど、何か問題が発生したときのモニタリングには非常に有効ですが、できるだけ早く知ることが重要です。そこで鍵となるのがアラートです。