LSIテスト製品

yieldHUB クラウド型歩留まり管理

yieldHUBは、クラウドを利用した歩留まり管理システムで、世界中のファブレス、IDM、OSATに活用されています。

yieldHUBは半導体テストの専門知識や分析技術と、進化を続けるクラウドネットワークデータベースを組み合わせる事で、費用対効果の高いソリューションを提供します。

  • データモデルはWafer1枚から数ロト分、数MB~数TBとスケーラブルです。
  • 対象データをアップロードするだけでデータベースに取り込みます。
    これは巧妙なデータ処理と革新的なデータベース設計により、数百ものウェハに相当するデータを短時間で分析します。分析作業はWebブラウザーを使用して行われます。
  • 世界のFabless、IDM、OSATの各企業で利用が進んでおり、そこから構築されたナレッジベースの共用化等World Wideサポートをリアルタイムに提供しています。
  • 独自のSecurity環境構築が必須の企業にはオンプレミスオプションがあります。

Base Core System

  • AWS (Amazon Web Service)
    • High Security yieldHUBホスト
    • 顧客単位で独立のFirewall
    • 1GB ~数TBのデータ
    • 短時間処理プロセス
  • On Premise (option)
    • ユーザ拠点での独自Hosting

エンジニアリングツール

  • パラメトリック解析
  • ビン解析
  • インデックス相関
  • Engineering Data Base
  • テストタイム解析
  • レポートの即時共有
  • ナレッジベース&コメント
  • 半導体固有のチャート

新製品立上評価

  • エンジニアリング機能に追加して:
    • 特性評価
    • Gage R&R(Repeat & Reproduce)
    • 感度分析(Sensitivity)
    • 仮想再テスト(Virtual Retest)
    • 計算処理テスト(Calculated)

量産対応

  • 自動データ取り込み
  • 生産量データのスケーリング
  • 歩留まり、Bin & Parametrice Aleart
  • Bin & Parametrice Trend
  • Bin & Parametrice Search
  • レポートのスケジューリング
  • プログラム変更の検出
  • WAT/PCM解析
  • ANOVA(分散解析)

カスタムツール

  • Integration with MES(Manufacturing Execution System)
  • In Line Fab data
  • Combined Electrical Data Report
  • Multi Substrate相関
  • 耐放射線評価
  • リアルタイム SPC (Statistical Process Control)

yieldHUBのご紹介ー会社と製品の概要説明

機能概要デモビデオ

Part Average Testingとは?

yieldHUBのカスタマーサクセスチームについて

STDFとは?

半導体のケーススタディ: 歩留まり管理ソフトウェア


歩留まり管理ソフトウェアのアウトソーシング
yieldHUBがエンジニアをより効率的にする方法をご覧ください
YMSが企業の品質、信頼性、トレーサビリティの要件を満たすのにどのように役立つかを学びます
STDF機能を拡張する方法をご覧ください

ビッグデータソリューション


昨今の半導体テストではGBクラスのログが毎日のように生成され、歩留管理、解析、改善に
活用される時代になりました。そんな中、大量のデータをまるで小規模データと同様なスピード感で
処理するyield management platformがあります。
yieldHUBをあなたも1度体験してみませんか?

製品サポート特設サイトでは、追加のデモビデオをご覧頂けます

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  • より速い分析yieldHUBは非常に高速です。そのため、エンジニアが仕事をするのに費やす時間は、他のシステムよりもずっと短くて済みます。
  • エンジニアの生産性向上このシステムにより、エンジニアはデータ収集に費やす時間を減らし、問題解決により多くの時間を費やすことができます。
  • 優れたコストパフォーマンスyieldHUBは、得られるサービスや機能の量に対して、市場で最も費用対効果の高いシステムの1つです。
  • 採用ニーズの低減yieldHUBはデータログを処理してレポートを作成するため、重要で実用的なレポートを実現するために従来必要だった長いプロセスをチームが踏む必要がありません。
  • クラウド型とシンクライアント型オンプレミスのソリューションの他に、AWSを利用したクラウドでyieldHUBを提供しています。これには多くの利点があります。
  • ファブレス企業 – データのパワーを最大限に引き出すyieldHUBは、半導体メーカーに歩留まり管理ソフトウェアを提供するリーディングカンパニーです。私たちのシステムは、サブコンとOSATを監督することができます。
  • IDM – 高度なデータインサイトの可能性を引き出すyieldHUBは、最新の歩留まり管理ソリューションで業界標準を打ち立てています。スクラップを減らし、以前の時間とリソースを節約しながら、迅速なデータ洞察を提供することで、意欲的な新興企業やトップ半導体企業を支援します。
  • 自動車関連技術yieldHUBの歩留まり管理プラットフォームは、車載用半導体企業が顧客の進化するニーズに対応することを可能にします。
  • 防衛・宇宙産業yieldHUBの歩留まり管理ソフトウェアは、防衛・宇宙産業の大手半導体サプライヤーで使用されています。
  • コンピュータと周辺機器 – データのパワーを最大限に引き出す企業は、ファウンドリ・ウェハの電気的パラメータ、ウェハのソート・ビニング、最終パッケージ・チップの結果など、チップ製造状況を監視し、製品が品質・性能要件を満たしていることを確認するための歩留まり管理システムを必要としています。
  • 産業用電子機器 – データの力を最大限に引き出すyieldHUBは、産業用電子機器サプライヤーに歩留まり管理ソリューションを提供するリーディングカンパニーです。コスト効率の高い当社のソリューションは、業界のリーディングカンパニーに採用されています。
  • コンシューマーエレクトロニクス – データの力を最大限に引き出すこの分野の企業は、他の産業と比較して膨大な量のデータを生成しています。yieldHUBはサーバーに容量を追加し、数千枚のウェハーのパラメータを同時に分析します。
  • 通信機器・技術・5GyieldHUBは、通信業界の数多くの半導体企業を支援しています。当社のソフトウェアは、お客様のチップの品質と信頼性を向上させ、より良い製品とお客様の幸福を実現するために役立っています。
  • 実用的なデータ実用的で持続可能な歩留まり向上の鍵は、タイムリーでクリーン、適切で直感的、かつ包括的な実用的データです。
  • 直感的で高速なインターフェイスyieldHUBは、あなたが必要とするレポートを作成します。半導体エンジニアが、製品・テストエンジニアとその管理者のために設計しました。問題の検出と解決に役立つ実用的なデータを提供します。
  • 外れ値検出Outlier Detectionは、PAT(Parts Average Testing)とGDBNを組み込んでおり、自動車業界にサービスを提供するチップ企業にとって不可欠なイネーブラーです。
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