yieldHUB

製品インサイトの改善

yieldHUBで利用できる半導体の検査で生成されたデータは、製品やデバイスの品質と信頼性を把握するために役立ちます。高品質な製品を持つことで、不良品や顧客からの返品を防ぐことができます。

yieldHUBの品質と信頼性を向上させるツールには以下のようなものがあります。

  • ドリフト解析（バーンイン、HTOL、ライフテスト用、これらの重要な信頼性プロセスをサポート）。
  • 感度分析（例えば、どのテストがプログラムまたは材料の変更に敏感か）。
  • プログラム変更検出（リビジョン間でプログラムがどのように変更されたか、例えば、どのテストが欠落しているか）。
  • AEC部品平均テスト（自動車用）。
    Good Die in Bad Neighborhood (自動車用だけでなく、一般的なもの). ロット異常検出（航空宇宙向け）。

品質とは何ですか？

品質とは、製品が顧客の要求や期待にどれだけ忠実であるかを測るものであり、また、製品が特定の条件下で、指定された期間、想定通りの性能を発揮する確率を測るものでもあります。

信頼性とは？

信頼性とは、製品の経時的な磨耗を表します。信頼性が高いとは、数年以内にフェイル（故障）する確率が非常に低いデバイスであることを意味します。半導体デバイスの多くは、何年もかけて寿命を迎えます。しかし、デバイスの性能を分析するのに何年も待っているわけにはいきません。そこで、デバイスのライフサイクルの後期における性能をシミュレートするために、印加ストレスを増加させる必要があります。yieldHUBは、HTOL試験で適用されるような付加的なストレスの研究をサポートします。

 

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