ゲージR&Rは、半導体産業において、繰返し性と再現性のために試験中のばらつきを測定するために使用されています。
ゲージR&Rは、長年にわたり半導体産業において、試験中のばらつきを測定し、再現性と繰り返し性を確保するために使用されてきました。これらの測定値は、製造におけるテストの適合性を評価するために使用されます。しかし、多くの場合、1つのサイトでのテストの適格性に焦点が当てられ、マルチサイトテストが使用される場合には、生産に関する問題のみが残されます。
サイト2の測定値が他のサイトと異なり、多くのフェイルが発生するパラメータの例をご覧ください。この場合、ゲージR&Rは失敗します。
ゲージR&Rは通常、一度に1つの試験環境要素のみで試験を行うことを要求しているため、すべての要素が評価されないことがよくあります。これは、単に時間とリソースの制約によるものです。テストエンジニアが多くの研究を行うために数週間の時間があることは稀です。では、なぜ一度に多くの要因を検討しないのでしょうか。その主な理由は、多因子解析の結果を解釈するのが複雑だからです。しかし、最新の解析システムを使えば、これはもはや問題ではありません。例えばyieldHUBのゲージR&Rの新バージョン3は、試験のデバッグから試験の認定、試験環境の認定までの全プロセスをサポートします。
そこで、上記の多拠点問題に戻ります。効率的なテスト開発ルートは、1～2台のユニットで再現性を評価し、必要に応じてテストを微調整することです。次に、より多くの装置と重要な変動要因を用いた試験を実施する。そして最後に、1回の試験ですべてを変化させ、データを分析します。数十の統計フィールドを生成し、マウスを数回クリックするだけでデータを選択し、レポートを実行することができるため、データ分析が非常に効率的に行えます。データ収集は、環境全体が安定していることを証明するために、意欲的に行うことができます。しかし、もし問題があれば、その原因を突き止め、必要な場合にのみ、より詳細なゲージの調査を実施することができます。
マルチサイト試験の歩留まり向上が初期生産でスムーズにいかない場合、yieldHUBのゲージR&R V3がお役に立ちます。MSAゲージR&R分析と最大レンジ分析のユニークな組み合わせにより、データおよび試験中の問題の原因についてより深い洞察を得ることができます。初日から高い歩留まりでマルチサイトテストを生産に移行することが可能であり、これはこれまでよりも少ない労力で達成することができます。
