yieldHUB

産業用電子機器 – データの力を最大限に引き出す

yieldHUBは、産業用電子機器サプライヤーに歩留まり管理ソリューションを提供するリーディングカンパニーです。コスト効率の高い当社のソリューションは、業界のリーディングカンパニーに採用されています。

産業用電子機器向けソリューションの課題

ファウンドリとの協業

ファウンドリパートナーに追加ライセンスを提供することで、ファブレス企業は歩留まり改善を加速させ、長期的な歩留まり改善を実現することができます。

ウェーハの仮想再試験

ウェーハのテスト終了後でも簡単にリミットを変更できるため、信頼性と品質の向上が図れます。

多種多様な製品設計

多種多様な製品を格納できるデータベースが必要であり、潜在的には様々なデータ形式を持つ可能性があります。

新しいデータの高速パース

どのようなシステムであっても、製造現場からの全てのデータフォーマットをサポートできなければなりません。 yieldHUBのエンジニアとデータベース設計は、これをサポートすることができます。

ワールドワイドなチーム間のコラボレーション

顧客は通常、設計と製造を世界各地で行っています。これを解決するために、yieldHUBは共有とコラボレーションのツールを統合しています。

データへのコメント付け

これだけ種類があれば、専門家がデータにコメントをつけて、テストハウスでのサポートやデバッグのスピードアップに役立てることができます。

ウェハーの仮想再試験

アセンブリに使用されるウェハーマップは、通常ウェハソートのテスト装置から直接取得されます。yieldHUBでは、エンジニアがウェハソートとアセンブリの間に来るアルゴリズムを使ってウェハーマップを更新することができます。これらのアルゴリズムは、ウェハソート後にウェハを「仮想的に」再テストし、アセンブリマップを更新します。

ワールドワイドなチーム間のコラボレーション

私たちのお客様の多くは、製品エンジニアやテストエンジニアのチームを異なる大陸に抱えています。yieldHUBは、このような開発チームと現場のエンジニアの間で、歩留まり問題を解決するための情報を即座に共有できるように設計されています。

Fab/WATデータを扱うことが出来ますか?

プロセスコントロールモニタリング(PCM)データとして知られるウェハアクセプタンステスト(WAT)データは、製造の最後に工場によって生成され、一般的にすべてのウェハについてファブレスの顧客が利用できるようにしたデータです。このデータには通常40から100のテストが含まれます。

STDF

yieldHUBは様々なフォーマットを分析します。STDFは最も一般的なものです。私たちは、お客様のサポートと私たちの専門知識を提供するために、多くの記事を用意しています。

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