yieldHUBは、クラウドを利用した歩留まり管理システムで、世界中のファブレス、IDM、OSATに活用されています。
yieldHUBは非常に高速です。そのため、エンジニアが仕事をするのに費やす時間は、他のシステムよりもずっと短くて済みます。
このシステムにより、エンジニアはデータ収集に費やす時間を減らし、問題解決により多くの時間を費やすことができます。
yieldHUBはデータログを処理してレポートを作成するため、重要で実用的なレポートを実現するために従来必要だった長いプロセスをチームが踏む必要がありません。
オンプレミスのソリューションの他に、AWSを利用したクラウドでyieldHUBを提供しています。これには多くの利点があります。
yieldHUBは、半導体メーカーに歩留まり管理ソフトウェアを提供するリーディングカンパニーです。私たちのシステムは、サブコンとOSATを監督することができます。
yieldHUBの歩留まり管理プラットフォームは、車載用半導体企業が顧客の進化するニーズに対応することを可能にします。
yieldHUBの歩留まり管理ソフトウェアは、防衛・宇宙産業の大手半導体サプライヤーで使用されています。
企業は、ファウンドリ・ウェハの電気的パラメータ、ウェハのソート・ビニング、最終パッケージ・チップの結果など、チップ製造状況を監視し、製品が品質・性能要件を満たしていることを確認するための歩留まり管理システムを必要としています。
yieldHUBは、産業用電子機器サプライヤーに歩留まり管理ソリューションを提供するリーディングカンパニーです。コスト効率の高い当社のソリューションは、業界のリーディングカンパニーに採用されています。
この分野の企業は、他の産業と比較して膨大な量のデータを生成しています。yieldHUBはサーバーに容量を追加し、数千枚のウェハーのパラメータを同時に分析します。
yieldHUBは、通信業界の数多くの半導体企業を支援しています。当社のソフトウェアは、お客様のチップの品質と信頼性を向上させ、より良い製品とお客様の幸福を実現するために役立っています。
実用的で持続可能な歩留まり向上の鍵は、タイムリーでクリーン、適切で直感的、かつ包括的な実用的データです。
yieldHUBは、あなたが必要とするレポートを作成します。半導体エンジニアが、製品・テストエンジニアとその管理者のために設計しました。問題の検出と解決に役立つ実用的なデータを提供します。
Outlier Detectionは、PAT(Parts Average Testing)とGDBNを組み込んでおり、自動車業界にサービスを提供するチップ企業にとって不可欠なイネーブラーです。
ゲージR&Rは、半導体産業において、繰返し性と再現性のために試験中のばらつきを測定するために使用されています。
集積回路を製造するファウンドリの建設、人材確保、運営にかかる高いコストはよく知られています。ファブレス企業はこの資本コストを回避し、専門分野における設計とイノベーションに集中することができます。
yieldHUBは、オフィスでも自宅でも、コミュニケーションとコラボレーションをシームレスにするためのお手伝いをします。
yieldHUBで利用できる半導体の検査で生成されたデータは、製品やデバイスの品質と信頼性を把握するために役立ちます。高品質な製品を持つことで、不良品や顧客からの返品を防ぐことができます。 yieldHUBの品質と信頼性 […]
YMSのリーディングカンパニーであるyieldHUBの最新イノベーションをご紹介します。
自動化されたレポートは、歩留まりの低下やパラメトリックシフトなど、何か問題が発生したときのモニタリングには非常に有効ですが、できるだけ早く知ることが重要です。そこで重要なのがアラートです。
製造全体にわたる1つのダイの検索スピードと総合診断のスピードが、ROIを最大化します。
yieldHUBは、高いスケーラビリティを持っています。数ギガバイトのデータから数テラバイトのデータまで、その間をすべて処理することができます。Copyright © ATE Service Corporation All rights reserved.
