ソリューション

製造テスト

アットスピードでのテストや、これまでにない製品審査のカバレッジを実現

半導体の製造工程では、ウェーハの製造や組み立ての各段階で品質を確保するために、自動テスト装置(ATE)が使用されています。近年、テスト業界は絶えず変化していますが、課題は増え続けています。その主なものは、ウェーハレベルでのアットスピード・テストの必要性です。

Introspect Technology社のDシリーズは、あらゆるウェハプローブや最終テストステーションでのアット・スピード・テストの実施という課題に対応しています。電源、クロック、制御を内蔵したDシリーズは、複雑なSerDesインターフェースに対する量産(HVM)テストのニーズを満たすだけでなく、従来のレガシーなATEを完全に排除することができます。

業界の課題

  • アットスピード機能テスト
  • マルチサイトテスト
  • コンカレント・マルチプロトコル・テスト
  • テストベクトル処理とフェイルマップ解析

機能

  • 最大56 Gbpsのテストパターン生成・解析機能
  • テストモジュールあたり最大32チャネル
  • 任意のレートでのプログラミング、およびチャネルごとのアナログ制御
  • 機器レベルで校正されたタイミングおよび電圧コントロール
  • ジッターインジェクションとジッター測定が可能

SV4DダイレクトアタッチMIPIテストモジュールのご紹介

SV4Dは、MIPIインターフェースのアットスピード・プロダクション・テストを可能にする超小型のテスト・モジュールです。機能テスト・プラットフォームとして、SV4Dは従来のATE機能と最新のMIPIテスト要件の両方を効率的にサポートします。

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