ソリューション

PCI Express

広く普及しているSerDesテクノロジーが計測科学の限界を超える

PCI Express(PCIe)は、広範なアプリケーションのコンピューティングデバイスで使用されている、非常に成功したSerDesインターフェースです。現在は第4世代で、第5世代に向けたロードマップの開発が進められています。PCIeインターフェースは、最先端の開発・検証ツールを必要とする大きな技術的進歩を遂げています。例えば、第4世代のPCIeデバイスは、レーンあたり16 Gbpsで動作し、制約のある損失の多い伝送チャネル(プリント基板など)でも、非常に低いビット・エラー・レート(BER)レベルを実現することが期待されています。この要求に応えるために、アナログ信号処理、デジタル信号処理、プロトコルレベルのデータ処理の限界を超える複雑な等化・適応アルゴリズムが実装されています。

PCIeリンクの設計検証と電気的特性評価は困難に見えるかもしれませんが、Introspect Technology社はこれらの作業を支援するツールを作成しました。当社のツールは高度に並列化されており、テスト中の実在のデバイスを同時にリアルに解析することができ、トレーニング・シーケンスの生成やイコライゼーションの調整などの機能を備えた高い汎用性を持っています。

業界の課題

  • 極めて高いデータレート
  • チャンネル数が多い
  • クローズドアイのレシーバー・ジッター耐性テスト
  • 厳しいトランスミッターアイテスト
  • 複雑なチャネルトポロジー
  • 複雑なリンク・イコライゼーション・トレーニング・アルゴリズム

機能

  • Gen5の開発において最大32Gbpsのカバレッジを実現
  • 1台のテスターで最大32レーンをカバー
  • レーンごとのジッターインジェクションと電圧ノイズインジェクションを統合
  • ハードウェアベースのクロックおよびデータリカバリ(CDR)をレーンごとに統合
  • レーンごとに統合されたディエンファシス生成機能
  • 柔軟なパターン生成とトレーニング用ステートマシン

PCI Expressデバイスの能力検出

PCI Express同時多チャンネル送信テスト

PCI Expressレシーバ・ジッタトレランステスト

PCI Express Gen3トランスミッターのコンプライアンスパターン

PCI Expressホストコントローラエミュレーションプロトコルエクセサイザ

SV5D

SV5D-17 Direct Attach SerDes Testerは,アプリケーションやテスト・ボードに直接取り付けることができる高集積のテスタです。SV5D-17は、アプリケーションやテスト・ボードに直接取り付けることができる高集積のテスターであり、可能な限り低いトータル・コストで、並列かつマルチサイトのGbpsテスト・メソドロジへの高まるニーズを満たします。

SV5C-17

SV5CパーソナライズドSerDesテスターは、高機能・高集積のパラレルBERTソリューションであり、テストカバレッジを向上させ、マルチチャネル・インターフェース・リンクのパフォーマンスを深く理解することができます。

PV1 ユニバーサル・アクティブ・プローブ

PV1は、高速バスの汎用プロービングに最適なユニバーサル・アクティブ・プローブです。オシロスコープ、プロトコル・アナライザー、スペクトラム・アナライザー、ロジック・バス・アナライザーなど、あらゆるサードパーティ製の計測機器と組み合わせて使用することができます。

SV3D 直付けSerDesテストモジュール

SV3D Direct Attach SerDes Test Moduleは、アプリケーションやテストボードに直接取り付けることができ、ケーブルを必要としない高集積のテスターです。SV3Dは、アプリケーションやテストボードにケーブルなしで直接取り付けることができる高集積のテスターであり、可能な限り低い総コストで、複数のサイトを並行してテストしたいというニーズを満たします。

SV3C パーソナライズドSerDesテスター

SV3CパーソナライズドSerDesテスターは、高速デジタル製品のエンジニアリング・チームに新しいカテゴリーのツールを提供する、超ポータブルな高性能機器です。

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SV1D 直付けSerDesテストモジュール

SV1D-14 Direct Attach SerDes Test Moduleは、アプリケーションやテストボードに直接取り付けることができ、ケーブルを必要としない高集積テスターです。SV1D-14は、アプリケーションやテストボード上にケーブルなしで直接取り付けることができる高集積のテスターであり、複数のサイトを並行してテストしたいというニーズに、可能な限り低い総コストで応えることができます。

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