ポストシリコンの検証と特性評価
半導体デバイスの量産前の評価・検証を効率的に行うためには、高性能な装置へのアクセスが最大の障害となることがよくあります。デバイスの各インターフェースマクロは徹底的に特性評価される必要があり、そのためには大規模で多数のベンチ設備が必要となります。従来の装置では、最大手の半導体メーカーであっても、必要な量と規模を確保することができませんでした。これが、Introspect Technology Cシリーズが見事に埋めた大きなギャップです。文字通り、各エンジニアがIntrospect社のテスターにアクセスできるようにすることで、企業はポストシリコン検証の重要なステップを加速し、デバイスの性能限界について深い洞察を得ることができます。