LSIテストサービス

LSIテスト用ソフトウェア開発サービス

半導体テスト用ソフトウェア構築サービス

National Instruments社のNI LabVIEWは、計測制御システム用のグラフィカルなプログラム開発環境です。NI LabVIEWを使用して、複数の計測器をGPIBで接続制御し、半導体テストを行うアプリケーション・ソフトウェアを、低コスト短納期で開発します。

特徴

  • パラメータの設定は、選択、ボタン、スライダーなどを使用したグラフィックによる操作
  • 複数の計測器をGPIB制御し、計測、データ収集、結果表示、データ保存を自動的に行えます
  • 収集したデータより演算した結果を様々なグラフ表示、グラフィプロパティの変更可能
  • 結果はExcelやテキストファイルに保存してレポート作成可能

利点

  • USB I/Fにより各種計測器をGPIB制御できます
  • プロトタイプによるアプリケーションプログラム仕様策定が可能で短納期で開発できます
  • ソースプログラムを提供しますので、NI LabVIEW開発環境を購入すればエンドユーザでプログラム改訂が可能です

NI, LabVIEWはNational Instruments社の登録商標です

LSI Test Software

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