Cloud Testing Serviceソリューション

LSIテスタ用パフォーマンス・ボード

  • 低価格/短納期！手軽にご使用頂けるユニバーサル・テストボードです。
  • 機能面でも充実、独自の工夫を盛り込んでいます。
  • 用途に応じた豊富なラインアップを用意しています。

高速デバイス・インターフェース・ボード

  • ＰＣＢ開発とテスティングにおけるノウハウを集約、ハイエンド・デバイス用の高性能テストボードを提供します。
  • 次世代実装テクノロジ “Super Connect”を視野に入れたテスト・ソリューションとして、貴社のデバイス・ビジネス戦略に貢献します。

対象テスタ

  • Advantest 社
    • T66xx ファミリー
    • T2000
    • V93000
    • CX1000
    • EVA
    • T33xx
  • Teradyne社
    • ETS800
    • UltraFLEX
    • microFLEX
    • J750/J973/Catalyst
  • Ando AL7275
  • LTX Fusion
  • Schlumberger ITS9000 ファミリー
  • その他各社　※お問合せください

主な仕様と特長

  • 高速 ＝　3dB帯域幅 ～5ＧＨｚ, 特性インピーダンス・コントロール±5%
  • ファインピッチ＝　～0.5mmスペース エリアアレイ・パッケージに対応
  • 多ピン対応＝　超多層でシグナル・ルーティングをカバー　～40層

高度な設計技術

高速デジタル伝送系 広帯域／微少アナログ対応レイアウト

先端ＰＣＢプロセス

低誘電率／低損失材のミックスド・レイヤ構造 アスペクト比　20 ：１、　各種特殊ビア

豊富なアプリケーション経験

テスト仕様／手法に応じたボード・システム提案 各種ハイ・パフォーマンス・テストソケット対応

テスト・ソリューションの例

各種SOC、高速ロジック、高バンド幅メモリ、ミックスド・シグナル・デバイスなどの評価・検証／ファイナル・テスト —– MPU, DSP, Graphics, Telecom, LVDS, DRDRAM, DDR-SDRAM　… etc.

LSIテスタ用パフォーマンス・ボード

主な特徴

１．ＧＮＤの強化

内層ＧＮＤプレーンを全面に配置。信号ラインのインピーダンス・コントロールやクロストーク防止など、多岐に渡って特性向上に寄与。

２．バイパスコンデンサ切り替え回路を付加

ＣＭＯＳデバイス等のスタンバイ電流測定時に必要な回路です。全ての電源にコントロールリレー回路及び高周波／低周波コンデンサ用スルーホールを付加。ケーブルによる配線の手間を省きました。

３．ＨＧＮＤパターンを付加

ＨＧＮＤのパッドからボードのセンターまでパタンを設けました。ケーブル配線した場合の固定リングとの引っかかりを無くし、テストヘッドへのボードの装着性を向上。

４．内周部ジャンパ・エリア

内周部スルーホールを簡略化し、信号線のスタブを回避。同時に、電源／ＧＮＤへのジャンパ配線がスムーズに。配線長インダクタンス低減と容易なパスコン配置によりデカップリング機能が強化。スタブを回避。

５．ユーザ・オリジナル

各社のテスト環境に合わせたアプリケーションをご提案いたします。テスタは問いません。その他、周辺機能のアプリケーションもサポートします。

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  • DDR5メインメモリ インターポーザダブルデータレート第5世代（DDR5）メインメモリ技術は、大容量メモリを必要とするサーバー、ワークステーション、高性能ポータブルアプリケーションで使用するためにJEDEC（Joint Electronic Devices Engineering Council）によって開発されたものである。
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  • LPDDR3 モバイルメモリインターポーザLPDDR3 (Low Power Double Data Rate Third Generation) モバイルメモリ技術は、JEDEC (Joint Electronic Devices Engineering Council) によって、低消費電力と小型化が不可欠な携帯機器やアプリケーション向けに開発されたものです。
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