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Pinetree™ 最も直感的で統合されたアルゴリズム開発環境メリットクリーンなインターフェース自動コード生成数値解析自動レポート生成特徴製品エンジニアのためのソフトウェアPinetree™の超高性能開発環境は、あらゆる高速デジタルおよびミックスドシグナルアルゴリズムを簡単かつシームレスに開発・検証できます。さまざまな経歴や専門知識を持つユーザー向けに…

SV7C パーソナライズドSerDesテスター SV7Cは、複雑化する電子部品や基板設計のテスト・検証要件に対応する並列高速テスタです。

Introspect Technologyについてこの60秒の短い映像で、私たちの素晴らしい会社をご紹介します。 2012年…

PV2 ユニバーサル・アクティブ・プローブ PV2ユニバーサル・アクティブ・プローブは、8 GHzの帯域幅で低電圧の高速信号を伝送する高速リンク用の信号測定ソリューションです。PV2ユニバーサル・アクティブ・プローブは、完全にプロプライエタリな測定器インターフェースを提供することで、回路負荷を最小限に抑え、シグナルインテグリティを維持しながら、被試験デバイス（DUT）にさまざまな測定器を容易に取り付けることができます。

アプリケーション・エンジニアリングアプリケーション・エンジニアは、半導体メーカーの製品開発チームとエンドユーザーをつなぐ重要な存在です。ますます多くのアプリケーション・エンジニアが、顧客の現場での統合と実装の大きな負担を担うことが期待されており、そのために様々なテストおよび測定ツールのセットが必要とされています。Introspect社の “ポータブル “で “オールインクルーシブ “なツールは、アプリケーション・エンジニアのツールボックスの中で重要な要素となりつつあります。
ハイボリュームの特性評価と製品エンジニアリング民生用電子機器市場では、非常に急速な生産量の増加に伴い、極めて大規模なデバイス・ロットのサンプリングと特性評価が必要となります。何千ものデバイスを特性評価する必要がある場合、正確な測定、迅速なデータ収集、大量の同時チャンネル数、自動化をすべて1つの環境で実現できるテストツールが必要となります。これは、半導体メーカーにとって難問です。多数の従来型ベンチ装置を使用することは法外であり、従来型の量産用ATEを使用することは十分な特性評価機能を提供しません。Introspect社は、ベンチとATEの間のこのギャップを埋めることができる唯一の装置ベンダーであり、大量のキャラクタライゼーションのパラダイムを容易に実現しています。

プレシリコンIPデザインバリデーション複雑な高速インターフェースIPブロックは、デバイス製造前に徹底的にテストする必要があります。Introspect社の製品は、IPブロックのハードウェア・エミュレーションを行うFPGAベースのプロトタイピング・ボードとのインターフェイスに最適です。その理由は、Introspect社の製品にはフルワイド・リンクが含まれており、FPGAエミュレーション環境に最適化されたデータ・レートで動作することができ、一般的な高速規格のプロトコルを完全にカバーしているからです

ファームウェア・ソフトウェア開発わずかな半導体上の高速デジタルリンクは、通信システムのような技術で構築されることが多い。その結果、例えば複雑なDSP適応アルゴリズムを実行するコンテンツや、常に繰り返し反復する必要のあるコンテンツなど、非常に大規模なソフトウェアおよびファームウェアのコンテンツが必要となります。Introspect Technology社のテストおよび測定ツールは、特に自動化のために設計されており、SerDesリンクを含むファームウェアやソフトウェアのリグレッション環境において中心的なコンポーネントとなります。

ポストシリコンの検証と特性評価半導体デバイスの量産前の評価・検証を効率的に行うためには、高性能な装置へのアクセスが最大の障害となることがよくあります。デバイスの各インターフェースマクロは徹底的に特性評価される必要があり、そのためには大規模で多数のベンチ設備が必要となります。従来の装置では、最大手の半導体メーカーであっても、必要な量と規模を確保することができませんでした。これが、Introspect Technology Cシリーズが見事に埋めた大きなギャップです。文字通り、各エンジニアがIntrospect社のテスターにアクセスできるようにすることで、企業はポストシリコン検証の重要なステップを加速し、デバイスの性能限界について深い洞察を得ることができます。

SV5D SV5D-17 Direct Attach SerDes Testerは，アプリケーションやテスト・ボードに直接取り付けることができる高集積のテスタです。SV5D-17は、アプリケーションやテスト・ボードに直接取り付けることができる高集積のテスターであり、可能な限り低いトータル・コストで、並列かつマルチサイトのGbpsテスト・メソドロジへの高まるニーズを満たします。
CRTB MIPI C-PHYリファレンスターミネーションボード CRTB MIPI C-PHYリファレンス・ターミネーション・ボード（RTB）は、MIPI C-PHYレシーバ・デバイスの動作を1枚のボードから簡単にエミュレートすることができます。RTBは、有効なMIPI C-PHY高速信号を受信すると、フローティングで低インピーダンスの終端を動作させ、信号を受信していないときには終端を解除します。

SV4E-I3C SV4E-I3Cは、4レーン、33 MbpsのI3Cプロトコル・アナライザ／エクセサイザです。SV4E-I3Cは、メイン・マスター、セカンダリ・マスター、I3Cスレーブなど、あらゆるターゲット・システムに接続することができます。SV4E-I3Cは、5nsのタイミング分解能で高精度のタイミング操作が可能で、トレースリンクのデバッグ用に1GByteのベクトルメモリを備えています。本モジュールは、汎用性の高いIntrospect ESPソフトウェア環境で動作し、これまでにない使いやすさと完全な自動化を実現しています。

SV4E-DPRXCPRX SV4E-DPRXCPRX MIPI受信デバイス・エミュレータは、MIPI®アライアンス対応デバイスのスクリーニング、キャリブレーション、最適化を迅速に行うことができる高集積のシステムレベル・テスタです。このようなデバイスには、モバイルやIoTアプリケーションで使用される高解像度のイメージセンサー、カメラモジュール、高度な画像信号処理装置などがあります。SV4E-DPRXCPRXは、独自のデュアルモードD-PHY℠/C-PHY℠アナログフロントエンドを搭載しています。また、CSI-2℠規格に対応した再構成可能なプロトコル・スタックを統合しています。これらの機能により、カメラの色設定やノイズ性能などのシステム・パラメーターの調整や校正を行うための、現実的なテスト・セットアップを非常に簡単に作成することができます。

SV4E-CPRXG SV4E-CPRXG MIPI C-PHY フレーム・グラバーは、CSI-2 センサー・データをキャプチャし、解析するための柔軟なソリューションです。CSI-2 のカメラ出力やレーダー出力に取り付けて、画像データを自動的に抽出し、アプリケーションの開発や校正、回帰テストを自動化することができます。

SV4E-SLVSECプロトコルアナライザ SV4E-SLVSEC 16レーン、6.5Gbpsプロトコル・アナライザーは、SLVS-EC（Scalable Low Voltage Signaling Embedded Clock）バージョン2.0プロトコルを採用したイメージセンサーやカメラシステムの開発、デバッグ、テストを可能にする、高集積のパケット／プロトコル・アナライザーです。本プロトコルは、JIIA EVI-001-2019とも呼ばれ、日本インダストリアルイメージング協会が最近発表したものです。

M5512 GDDR7メモリ・テスト・システム

M5512 GDDR7メモリ・テスト・システムは、JEDECグラフィックス・ダブル・データ・レート7 SGRAM規格（GDDR7）に基づくメモリ集積回路の特性評価と機能テストを行うための、カテゴリーを創造するソリューションです。

SV7M-LPDDR5PA LPDDR5 プロトコルアナライザ

メモリPHYのテストはどのように変化しているか、そしてIntrospectはどのように役立つか

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エンジニアだけが理解できるGDDR7とGDDR6の3つの違い！

GDDRメモリーがAI向けコンピューター・アーキテクチャーの次の大きな一歩になるかもしれない理由

Mシリーズ

Mシリーズは、大量のデータ収集と特性評価に最適な、新しいクラスの超並列SerDes検証テスターです。Dシリーズ・モジュールの集合体で構成され、Introspect ESPソフトウェアを使ってシームレスに操作できるこの超並列テスターは、高速デバイスを丸ごとインタフェースすることができます。

Eシリーズ

Dシリーズ

Cシリーズ

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ディスプレイ・ドライバ集積回路（DDIC）や完全に組み立てられたディスプレイ・パネルのために、プロトコルの演習や分析から、量産テストやシステムレベルのエミュレーションまで、最も完全なテスト・ツール・スイートを作成しました。

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