カナダ・モントリオール、2024年3月27日 – JEDEC®メンバーであり、テスト・計測機器の大手メーカー であるIntrospect Technologyは本日 、JEDECが新たに策定したJESD239Graphics Double Data Rate (GDDR7) SGRAM仕様をテストするための世界初の商用ソリューションであるM5512 GDDR7 Memory Test Systemを出荷したと発表 しました。このカテゴリーを創造するソリューションにより、グラフィックス・メモリ・エンジニア、GPU設計エンジニア、メモリとGPUの両分野の製品エンジニア、システム・インテグレータは、他のツールを必要とすることなく、新しいGDDR7メモリ・デバイスの迅速な立ち上げ、プロトコル・エラーのデバッグ、シグナル・インテグリティの特性評価、詳細なメモリ・リード/ライト機能ストレス・テストを実施することができます。

GDDR7仕様は、グラフィックス処理、人工知能（AI）、AI集約型ネットワーキング向けの高帯域幅・大容量メモリ実装の実現を目的とした最新の業界標準です。GDDR7 PAM3変調技術は、パルス振幅変調（PAM）と、ネットワーキングで使用される他のPAM4規格と比較して改善された信号対雑音比を特徴とし、制約のある電気チャネル上でのデータ伝送帯域幅を大幅に増加させながら、より高い電力効率を達成します。

「Introspect TechnologyのCEOであるDr. Mohamed Hafedは、次のように述べています。「GDDR7の展開において業界をサポートするため、Introspect Technologyはここ数年、JEDECメンバーとともに精力的に取り組み、M5512 GDDR7メモリ・テスト・システムを開発しました。「Introspectは創業以来、ユニークな高速インターフェイス規格に対応するユニークなテスト・ソリューションの開発に取り組んできましたが、GDDR7規格は間違いなくユニークなものです！Introspectは、このような革新的な技術をサポートするエコシステムの一部になれることに興奮しています。

M5512 GDDR7 メモリ・テスト・システムは、Introspect Technology の数十年にわたる高性能小型テスト装置製造の経験を基に開発されたベンチトップ・テストおよび測定装置です。72本の高性能ピンを備え、各ピンはPAM3モードで40Gbps動作が可能です。また、各ピンには、フェムト秒分解能のスキュー・インジェクション、ミリボルト分解能の電圧制御、プログラマブル・ジッター・インジェクション、その他AC特性評価やコンフォーマンス・テストに不可欠なアイ・マージニング機能など、アナログ特性評価機能をフル装備しています。このシステムには、高精度の電源シーケンスとランプ制御を備えたデバイス電源も内蔵されています。これにより、M5512は、あらゆるGDDR7デバイスのAC特性評価とメモリ機能ストレス・テストの両方を実行できる包括的なソリューションとなります。さらに、柔軟性の高いPinetree環境を活用することで、M5512はGDDR7メモリ・コントローラのテストやメモリPHYのテストにも導入できます。

M5512 GDDR7メモリ・テスト・システムは、Introspect Technologyの新しいMシリーズ製品ラインの一部であり、高データ・レート、高チャネル数のデバイスやシステムをテストするための超並列製品シリーズです。