M5512 GDDR7メモリ・テスト・システム
M5512 GDDR7メモリ・テスト・システムは、JEDECグラフィックス・ダブル・データ・レート7 SGRAM規格(GDDR7)に基づくメモリ集積回路の特性評価と機能テストを行うための、カテゴリーを創造するソリューションです。
Mシリーズ
Mシリーズは、大量のデータ収集と特性評価に最適な、新しいクラスの超並列SerDes検証テスターです。Dシリーズ・モジュールの集合体で構成され、Introspect ESPソフトウェアを使ってシームレスに操作できるこの超並列テスターは、高速デバイスを丸ごとインタフェースすることができます。
MIPIディスプレイ&タッチ
ディスプレイ・ドライバ集積回路(DDIC)や完全に組み立てられたディスプレイ・パネルのために、プロトコルの演習や分析から、量産テストやシステムレベルのエミュレーションまで、最も完全なテスト・ツール・スイートを作成しました。
アクセサリー
ビデオ記事
Pinetree™
最も直感的で統合されたアルゴリズム開発環境 メリットクリーンなインターフェース自動コード生成数値解析自動レポート生成特徴製品エンジニアのためのソフトウェアPinetree™の超…