M5512 GDDR7メモリ・テスト・システム

M5512 GDDR7メモリ・テスト・システムは、JEDECグラフィックス・ダブル・データ・レート7 SGRAM規格(GDDR7)に基づくメモリ集積回路の特性評価と機能テストを行うための、カテゴリーを創造するソリューションです。

SV7M-LPDDR5PA LPDDR5 プロトコルアナライザ

メモリPHYのテストはどのように変化しているか、そしてIntrospectはどのように役立つか

組み込みDisplayPort設計でALPMモードを検証する最速の方法

イントロスペクト・テクノロジー、世界初のGDDR7メモリ・テスト・システムを出荷

エンジニアだけが理解できるGDDR7とGDDR6の3つの違い!

GDDRメモリーがAI向けコンピューター・アーキテクチャーの次の大きな一歩になるかもしれない理由

Dシリーズ

Dシリーズは、従来の自動試験装置(ATE)でのマルチギガビットテストを可能にしました。電源、クロック、制御を内蔵しており、複雑なSerDesインターフェースのテストと測定のニーズを満たします

Eシリーズ

Mシリーズ

Cシリーズ

Pinetree™

MIPIコントロールとデータ

Eシリーズのモジュールとプローブは、MIPIアライアンスで定義されているような制御およびデータ・インターフェースの設計とデバッグに最適です。

MIPIディスプレイ&タッチ

MIPI物理層

MIPIカメラ&イメージング

MIPI デバッグ

ビデオ記事

Pinetree™

最も直感的で統合されたアルゴリズム開発環境 メリットクリーンなインターフェース自動コード生成数値解析自動レポート生成特徴製品エンジニアのためのソフトウェアPinetree™の超…

Cシリーズ

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Eシリーズ

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