M5512 GDDR7メモリ・テスト・システム

M5512 GDDR7メモリ・テスト・システムは、JEDECグラフィックス・ダブル・データ・レート7 SGRAM規格(GDDR7)に基づくメモリ集積回路の特性評価と機能テストを行うための、カテゴリーを創造するソリューションです。

SV7M-LPDDR5PA LPDDR5 プロトコルアナライザ

メモリPHYのテストはどのように変化しているか、そしてIntrospectはどのように役立つか

組み込みDisplayPort設計でALPMモードを検証する最速の方法

イントロスペクト・テクノロジー、世界初のGDDR7メモリ・テスト・システムを出荷

エンジニアだけが理解できるGDDR7とGDDR6の3つの違い!

GDDRメモリーがAI向けコンピューター・アーキテクチャーの次の大きな一歩になるかもしれない理由

Mシリーズ

Mシリーズは、大量のデータ収集と特性評価に最適な、新しいクラスの超並列SerDes検証テスターです。Dシリーズ・モジュールの集合体で構成され、Introspect ESPソフトウェアを使ってシームレスに操作できるこの超並列テスターは、高速デバイスを丸ごとインタフェースすることができます。

Dシリーズ

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MIPIディスプレイ&タッチ

ディスプレイ・ドライバ集積回路(DDIC)や完全に組み立てられたディスプレイ・パネルのために、プロトコルの演習や分析から、量産テストやシステムレベルのエミュレーションまで、最も完全なテスト・ツール・スイートを作成しました。

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最も直感的で統合されたアルゴリズム開発環境 メリットクリーンなインターフェース自動コード生成数値解析自動レポート生成特徴製品エンジニアのためのソフトウェアPinetree™の超…

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