従来のラックベースのシステムに代わるこのコンパクトなデジタル・テスト・システムは、MIPI® I3C、MIPI SoundWire、JEDEC® SidebandBus、MIPI RFFE、Quad SPIなどの一般的なインターフェースの完全なプロトコル検証とAC特性評価を提供します
カナダ・モントリオール、2024年1月18日 – 高速デジタル・アプリケーション向け電子計測器の大手メーカーであるIntrospect Technologyは 、SV6E-X中周波デジタル・テスト・モジュールの正式発売を発表 します。この中周波デジタル・インターフェース開発用の包括的なソリューションは、QuadおよびOctal SPI、 JEDEC SidebandBus、 MIPI I3C、 MIPI SoundWire、 MIPI RFFEなどの一般的なプロトコルをサポートする ことができます。また、DMTF(Distributed Management Task Force)、SPMI(System Power Management Interface)、SMBus(System Management Bus)、PMBus(Power Management Bus)などのシステム管理インタフェースの検証や解析にも理想的なソリューションです。
「SV6E-Xは、複雑化する民生用電子機器の先駆的なソリューションです。「デジタルI/Oピンでは、高速インターフェースで提供しているのと同じ機能をエンジニアに提供し、テストされたすべての重要なインターフェースについて、真の柔軟性とネイティブ・プロトコルのシームレスな統合を可能にしたかったのです。
デジタル・システム・オン・チップ(SOC)アーキテクチャは、コストを最小限に抑え、チップ間通信の帯域幅を最大化するための絶え間ない探求の中で、デジタル入出力(I/O)ピンが2つの異なるカテゴリーに分岐してきました:現在、SOC上のピンのほとんどを占めるSerDesベースの高速インターフェースと、少数の低速制御または汎用デジタルI/Oインターフェースです。しかし、これらの低速デジタル・ピンが100MHzを超える周波数で動作し始めたらどうなるでしょうか。SV6E-Xのプロトコル・テストとAC特性評価機能は、この問題に対処している。従来のベクトルベースのパターン・ジェネレータやロジック・アナライザに頼るのではなく、このコンパクトなユニットは、真のプロトコル・ベースのテスト(つまりハンドシェイク)を可能にし、同時に計測器グレードのリアルタイム・オシロスコープ測定機能を提供します。これは、プロトコルアナライザ、プロトコルエクササイザ、リアルタイムオシロスコープという3つの最新測定器クラスを1つのモノリシックなフォームファクターに統合することで実現しています。3つの測定器クラスはすべて、Introspect Technologyの受賞歴のあるPinetreeソフトウェア内でシームレスに連携し、非常に柔軟なテストパラダイムを作成します。
Introspect TechnologyのSV6E-Xのユーザーは、製品エンジニアリングの効率を高めるために、多くのテストシナリオを展開することができます。そのいくつかをご紹介しましょう:
- コントローラとして動作するI3C加速度センサ集積回路(IC)の設計検証
- フラッシュ・メモリ・デバイス上のクアッドまたはオクタルSPIバスのAC特性評価
- RFFEインターフェースによるパワーアンプのシステムレベルテスト
- CPUまたはGPUデバイスのI3CバスのAC特性評価
- SMBusシステム管理に依存するサーバーのプロトコル解読
SV6E-Xは、0.8Vから3.6Vまでの双方向デジタル・インターフェース用拡張電圧範囲をサポートし、最大20個のテスト・チャネルを内蔵しており、それぞれ10チャネルずつの2つのバンクに分かれています。これらの各チャンネルは、電圧レベル、プルアップおよびプルダウン抵抗、微分解能スキュー値などのプログラム可能な電気特性を持ち、それぞれ内蔵の1Gspsリアルタイム・オシロスコープに接続できます。
ポータブルSV6E-Xは、業界をリードするプロトコルにオンデマンドでライセンスすることができます。オプションのPurVueAnalyzer™ ライセンスは、1 Gspsのリアルタイム・オシロスコープで、あらゆるチャネルとライセンス供与されたプロトコルに接続できます。 この包括的なデジタル・テスト・ソリューションは、汎用性と性能の新たな基準を打ち立てます。