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Galaxy Semiconductorは20年以上にわたって、チップ工場がより優れた、より効率的なマイクロチップを製造するのを支援してきました。
JF Technology Groupは、精密アナログ、車載、RF/mmWave、ハイエンド・デジタル、ハイパワーの各市場に対応する非常に幅広い製品ポートフォリオを誇っています。
IQramp™は、製品性能の特性評価を支援する、インタラクティブなデータ解析およびレポート作成ツールです。
IQfact+™ は、最小限のエンジニアリング作業で迅速な大量生産を可能にする、ターンキー方式のチップセット専用ワイヤレス テスト ソリューションです。
3G、4G LTE、Sub-6GHz 5G NR 向け RF セルラーモジュール試験用 IQfactATM
IQfact5G は、5G NR mmWave および Sub-6GHz 対応デバイスのチップセット固有のテスト用に設計された、ターンキー型の大量生産自動テスト ツールです。
IQcell-5Gは、エンドオブライン製造、ソフトウェア回帰および機能性能テスト向けに設計された簡素化された5Gシグナリング・テスト・ソリューションです。
IQcell™ は、2G/3G/4G テクノロジーの真のエンドユーザー体験テストに理想的なセルラー信号テストソリューションです。
IQnfc+®は、DVTおよび製造段階におけるNFCデバイスの特性評価に最適化された物理層テスト・システムです。EVCoとNFCフォーラムで定義されているすべてのテストケースをサポートしています。
IQxstream-M™は、NB-IoT、Wi-Fi、Bluetooth®、Zigbeeで動作する2G/3G/4GデバイスおよびIoTモジュールの校正と検証が可能なマルチDUT製造テストソリューションです。
IQxstream-5G™ は、5G NR Sub-6 GHz 周波数帯域の物理層テスト用に 200 MHz の連続帯域幅を持つ、将来性のあるマルチ DUT、マルチアンテナ製造テスト ソリューションです。
LITEPOINTのIQxel-M™ LoRaテストソリューションは、箱から出してすぐにLoRa技術をテストすることができるターンキーソリューションです。
IoT WLAN、Bluetooth®、LPWAN、セルラー無線 RF 接続テストのあらゆるニーズに対応するオールインワンテストプラットフォーム
6 GHz帯のWi-Fi 6およびWi-Fi 6Eに対応した初の完全統合テスタ、Wi-Fi 7 EHT160MHzをサポート
Wi-Fi 7、Wi-Fi 6E、Wi-Fi 6のテストに対応した業界最高水準の性能
IQgig-UWB™テスターは、ウルトラワイドバンド（UWB）802.15.4z技術に対応したデバイスの物理層テストを行う、業界初の完全統合型ワンボックス型テストソリューションです。
IQgig™ RFは、802.11adおよびay（WiGig）RFモジュールと最終製品のOver-the-Air（OTA）テスト用にカスタマイズされた高性能物理層テスト・ソリューションです。
IQgig™-IF は、802.11ad および ay (WiGig) チップセットとベースバンド・モジュールのテストを実施するために設計された高性能物理層テスト・ソリューションです。
IQgig-5Gは、23～45GHzの範囲内ですべての5G FR2周波数にわたって5G NRユーザー機器（UE）とスモールセルのテスト用に設計された、初の完全統合型シングルボックス、マルチバンドmmWaveテストソリューションです。
yieldHUBは、クラウドを利用した歩留まり管理システムで、世界中のファブレス、IDM、OSATに活用されています。
yieldHUBは非常に高速です。そのため、エンジニアが仕事をするのに費やす時間は、他のシステムよりもずっと短くて済みます。
このシステムにより、エンジニアはデータ収集に費やす時間を減らし、問題解決により多くの時間を費やすことができます。
yieldHUBは、得られるサービスや機能の量に対して、市場で最も費用対効果の高いシステムの1つです。
yieldHUBはデータログを処理してレポートを作成するため、重要で実用的なレポートを実現するために従来必要だった長いプロセスをチームが踏む必要がありません。
オンプレミスのソリューションの他に、AWSを利用したクラウドでyieldHUBを提供しています。これには多くの利点があります。
yieldHUBは、半導体メーカーに歩留まり管理ソフトウェアを提供するリーディングカンパニーです。私たちのシステムは、サブコンとOSATを監督することができます。yieldHUBは、最新の歩留まり管理ソリューションで業界標準を打ち立てています。スクラップを減らし、以前の時間とリソースを節約しながら、迅速なデータ洞察を提供することで、意欲的な新興企業やトップ半導体企業を支援します。
yieldHUBの歩留まり管理プラットフォームは、車載用半導体企業が顧客の進化するニーズに対応することを可能にします。
yieldHUBの歩留まり管理ソフトウェアは、防衛・宇宙産業の大手半導体サプライヤーで使用されています。
企業は、ファウンドリ・ウェハの電気的パラメータ、ウェハのソート・ビニング、最終パッケージ・チップの結果など、チップ製造状況を監視し、製品が品質・性能要件を満たしていることを確認するための歩留まり管理システムを必要としています。yieldHUBは、産業用電子機器サプライヤーに歩留まり管理ソリューションを提供するリーディングカンパニーです。コスト効率の高い当社のソリューションは、業界のリーディングカンパニーに採用されています。この分野の企業は、他の産業と比較して膨大な量のデータを生成しています。yieldHUBはサーバーに容量を追加し、数千枚のウェハーのパラメータを同時に分析します。
yieldHUBは、通信業界の数多くの半導体企業を支援しています。当社のソフトウェアは、お客様のチップの品質と信頼性を向上させ、より良い製品とお客様の幸福を実現するために役立っています。
実用的で持続可能な歩留まり向上の鍵は、タイムリーでクリーン、適切で直感的、かつ包括的な実用的データです。
yieldHUBは、あなたが必要とするレポートを作成します。半導体エンジニアが、製品・テストエンジニアとその管理者のために設計しました。問題の検出と解決に役立つ実用的なデータを提供します。
Outlier Detectionは、PAT（Parts Average Testing）とGDBNを組み込んでおり、自動車業界にサービスを提供するチップ企業にとって不可欠なイネーブラーです。
ゲージR&Rは、半導体産業において、繰返し性と再現性のために試験中のばらつきを測定するために使用されています。
集積回路を製造するファウンドリの建設、人材確保、運営にかかる高いコストはよく知られています。ファブレス企業はこの資本コストを回避し、専門分野における設計とイノベーションに集中することができます。
yieldHUBは、オフィスでも自宅でも、コミュニケーションとコラボレーションをシームレスにするためのお手伝いをします。
yieldHUBで利用できる半導体の検査で生成されたデータは、製品やデバイスの品質と信頼性を把握するために役立ちます。高品質な製品を持つことで、不良品や顧客からの返品を防ぐことができます。 yieldHUBの品質と信頼性 […]
YMSのリーディングカンパニーであるyieldHUBの最新イノベーションをご紹介します。
自動化されたレポートは、歩留まりの低下やパラメトリックシフトなど、何か問題が発生したときのモニタリングには非常に有効ですが、できるだけ早く知ることが重要です。そこで重要なのがアラートです。
製造全体にわたる1つのダイの検索スピードと総合診断のスピードが、ROIを最大化します。
yieldHUBは、高いスケーラビリティを持っています。数ギガバイトのデータから数テラバイトのデータまで、その間をすべて処理することができます。
112G/800G PAM4 ソリューションに要求される性能、精度、正確さがますます高まる中、Wilder は QSFP-DD, OSFP, SFP-DD コンプライアンス試験をサポートする堅牢な HCB および MCB フィクスチャを設計することができました。
HDMIテストアダプタとテストフィクスチャキットは、ソースとシンクのコンプライアンステストとHDMIケーブルのテストを容易にします。
Wilder TechnologiesのEnhanced-DisplayPort™テストアダプタは、DP 2.0/2.1仕様のホストおよびデバイスのテストを可能にします。
Thunderbolt™テスト・アダプタとテスト・フィクスチャ・キットは、ソースとシンクのコンプライアンス・テストを容易にします。
USB-IF approved USB4™ Compliance test fixture. ワイルダーの堅牢な次世代USB4マイクロコントローラソリューションは、USB Type-C®ホストとの互換性を提供します。
USB-IF承認のUSB3.1™コンプライアンス・テスト・フィクスチャ。TPAは、USB-Type-Cホストおよびデバイスのテストに使用することができます。
PCIeテスト・アダプタとテスト・フィクスチャ・キットは、ソースとシンクのコンプライアンス・テストを容易にします。
Gen4 Mini-SAS HDアダプタキットは、SAS-4ホスト、デバイス、ケーブルのコンプライアンステストを容易にします。
SATAテスト・アダプタとテスト・フィクスチャ・キットは、ソースとシンクのコンプライアンス・テストを容易にします。
MicroおよびStandard SD Expressメモリーカードテストアダプタキットは、SD7.0およびSD7.1のPCIe® 8GT/sインターフェースコンプライアンスプログラムのテストをサポートします。
USB 3.1 USB (10 GT/s) Type-C Electrical Test Fixture Setは、ワーストケース、ISIハードウェアチャネルをPHYに提供します。
ISI-USB4は、56 Gbpsec NRZおよび112 Gbpsec PAM-3、PAM-4へのジッターを作成するためにISIの量を制御したWild River Technologyプラットフォームの次世代を代表するものです
112 Gbaud PAM-4のシグナル・インテグリティ要件用に特別に設計されたシンボル間干渉 (ISI) プラットフォームです
Wild River Technology CMP-50アドバンスト・チャネル・モデリング・プラットフォームは、50 GHzまでの高速システム開発のための強力なツールです。
ISI-28/ISI-32は、Wild River Technologyの次世代プラットフォームで、32Gbpsecまでのジッターを生成するために制御された量の符号間干渉（ISI）を備えています
ISI-56は、56Gbpsecのジッタを作成するために制御された量の符号間干渉（ISI）を持つ、Wild River Technologyプラットフォームの最新世代を代表するものです
6-32 GbpsecシステムおよびPAM-4, 56 Gbpsecに挑戦するために設計された損失と挿入クロストーク比（ICR）のファミリーで構成される業界初のクロストーク・テスト・プラットフォームです。
フラッシュメモリ技術は、ONFI（Open NAND Flash Interface）業界ワークグループとJEDEC（Joint Electronic Devices Engineering Council）により、携帯機器や低消費電力と小型化が重要なアプリケーションで使用するために定義されています。
ダブルデータレート第2世代（DDR2またはDDRII）メインメモリ技術は、大容量メモリを必要とするサーバー、ワークステーション、高性能ポータブルアプリケーションで使用するためにJEDEC（Joint Electronic Devices Engineering Council）が開発したものです。
ダブルデータレート第4世代（DDR4）メインメモリ技術は、JEDEC（Joint Electronic Devices Engineering Council）によって、大容量メモリを必要とするサーバ、ワークステーション、高性能ポータブルアプリケーション用に開発されました。
ダブルデータレート第5世代（DDR5）メインメモリ技術は、大容量メモリを必要とするサーバー、ワークステーション、高性能ポータブルアプリケーションで使用するためにJEDEC（Joint Electronic Devices Engineering Council）によって開発されたものである。
LPDDR2 (Low Power Double Data Rate Second Generation) モバイルメモリ技術は、JEDEC (Joint Electronic Devices Engineering Council) により、携帯機器や低消費電力と小型化が不可欠なアプリケーション向けに開発されました。
LPDDR3 (Low Power Double Data Rate Third Generation) モバイルメモリ技術は、JEDEC (Joint Electronic Devices Engineering Council) によって、低消費電力と小型化が不可欠な携帯機器やアプリケーション向けに開発されたものです。
低消費電力ダブルデータレート第5世代（LPDDR5およびLPDDR5X）モバイルメモリ技術は、JEDEC（Joint Electronic Devices Engineering Council）によって、携帯機器や低消費電力と小型化が不可欠なアプリケーションで使用するために開発されました。
低消費電力ダブルデータレート第5世代（LPDDR5およびLPDDR5X）モバイルメモリ技術は、JEDEC（Joint Electronic Devices Engineering Council）によって、携帯機器や低消費電力と小型化が不可欠なアプリケーションで使用するために開発されました。
Thor は、大量生産テスト環境を通じて設計され、検証されています。この接点技術は、独自のフレキシングスタイル、垂直作動接点ソリューションです。
Herculesは、カンチレバースタイルのシングルデータロック設計のピンであり、一定の接触抵抗[Cres/RDS(on)]とテスト対象デバイスの温度制御±2℃、生産環境での長寿命を必要とする車載およびミックスシグナルアプリケーションで使用されています。
Ostriconは、様々なロードボードのフットプリントやテストハンドラーのハードウェアに柔軟に対応するために設計された、ユニークなカンチレバー式のコンタクトソリューションです。ZIGMA : QFN、DFN、QFP、SOスタイルのICパッケージをほとんどのハンドラプラットフォームでテストできるように設計された、特許取得済みのジグマ・テスト・コンタクティングソリューションは、テストコストの削減、歩留まりの向上、製品のアップビンを実現する、目に見える結果を提供します。
ETA.5 : GHz RF、ミックスドシグナル、アナログなどの高周波アプリケーションの高性能ATE要件を満たす新しい超短焦点コンタクトです。
EZコンタクトは、ラボでの初期評価から大量生産テスト環境まで対応できるよう設計・検証された高性能テスト用接点ソリューションです。
MP915は、革新的なカウンターウェイトレス設計により、マニピュレーター全体の重量を軽減し、より高い機動性を実現しました。最大250kgのテストヘッドに対応し、3自由度のフッティングを採用した薄型設計により、設置面積を最小限に抑えています。
MP600は高性能なヘビーデューティーマニピュレーターです。最大630kgのテストヘッドに対応し、完全な6自由度を実現しています。電動で上下する直線運動は、テストヘッドのセットアップ時間を大幅に短縮します。
MP450は、最大450kgまでのテストヘッドに対応しています。ツイスト、タンブル、リニアガイドフッティング、垂直リニア移動など、手動またはモーター駆動の選択が可能で、フレキシブルに対応できます。
MP300は、最大320kgまでのミッドレンジテストヘッドに対応する完全なハンドリングソリューションを提供します。直線と回転の両方で広い可動域を持ち、費用対効果の高いハンドリングソリューションを提供することを目的としています。
MP200は、最大200kgまでのテストヘッドに対応し、5自由度、直線、回転の幅広い動作で、テスト操作を容易にします。このマニピュレーターは、テストセルの占有面積を最小限に抑えながら、オペレーターに十分な操作性を提供します。
MP150は、最大150kgまでのコンパクトなテストヘッドに対応します。最大5自由度とモジュール化されたアームにより、様々なテストハンドラやプローバとの迅速かつ効率的なドッキングが可能です。
MP100は、コストパフォーマンスに優れた軽量型のマニピュレーターです。最大120kgまでのテストヘッドに対応し、小型で便利なソリューションを提供します。
サーモジェット環境シミュレーターは、最大20 SCFMの気流を供給し、製品や被試験デバイス（DUT）の温度を急速に変化させる精密制御の温度強制システムです。
サーモジェットは、業界で他に類を見ない温度遷移速度を実現し、20 SCFMで-80℃の空冷温度を維持することができます。実績と信頼性のあるデュアルクールカスケード冷凍システムで作られており、複雑で難しい混合ガスを必要としません。
ThermoJetは、フロア型気流温度サイクルシステムとしては最小の設置面積を実現します。
AirJet XE精密温度サイクルシステムは、カスケード冷凍システムをベースにした空気輸送装置で、1～6 SCFMの流量で、-75℃～+225℃の範囲で迅速な移行と精密な制御を実現します。フレキシブルな吐出ラインにより、ノズルの位置決めが簡単かつ正確に行えます。 付属のシュラウドとポジショニングスタンドにより、試験環境をさらにコントロールすることができます。
ATEサービスは,HUBER+SUHNERがカバーする幅広いジャンルの中から,HSDT(High Speed Digital Testing)製品部門を担当する国内正規代理店です。弊社取り扱いの製品詳細を紹介する特設サイ […]
NIのTD-ScanPro™は、TSSIとナショナルインスツルメンツの協力の結果、テストエンジニアがWGL、STIL、VCD、EVCDなどの標準EDAフォーマットを最新のNI STSデジタルパターンフォーマット（.dig […]
6～100Gbps超シリアルリンクのオンボード・インターコネクト設計に向けた,3Dフルウェーブ電磁界解析ベースのSIツールです。 SimberianのSimbeor THzは, 6～100Gbps超シリアルリンクのオンボ […]
半導体生産歩留まり自動モニタリング +例外アラーティングと レポーティング +歩留まり低下の根本的原因解析 Yield-MAN™概要 Galaxy Yield-Man™は、ファブレス企業、IDM、テストサブコンがサプライ […]
PAT概要 Parts Average Testing(PAT)は、近年、多くの半導体会社に採用され、主として自動車業界(Automotive Electronics Council:AEC-Q001-Rev C) の厳 […]
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Solstice-TDSソフトウェアは、長年テスタ・インターフェースへ取り組んできたTSSI社が開発した、設計とテストの環境統合システムです。 ・テスタを意識した波形データベースを中核とし、多様なインターフェースツールを […]
プレシリコン・パタン検証ツールで、設計者とテストエンジニアが同じ環境下で作業できますSCANやファンクションパタン(ATPG, BIST, STIL, WGL, 各種ATEプラットフォーム, IPコアベンダー)を、設計者 […]
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